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三坐标测头和测针系统的设计及质量对接触测量结果具有决定性影响。蔡司测针产品系列包含从红宝石到金刚石球形测针、盘形测针以及星形测针等7,余种测针，提供质量优良的完整测针系统。您定能从中寻获满足您测量过程和工件的解决方案，而我们的计量专家也会竭诚为您提供建议，助您选择正确的测针。
蔡司三坐标如何识别高质量的测针？
裸眼很难识别，但在显微镜下，通常会有明显不同。测量测头的质量主要体现在表面光洁度和接头设计。另外，质量也是决定一款测针能否长期保持精确测量结果的重要因素，而出色的测针刚度、测针元件的几何精度及测球的最大圆度也是检验质量的要素。蔡司凭借严格的制造工艺，促使测针具有有口皆碑的高品质。
检测测针，防止磨损
即使高质量的测针也是消耗品，必须定期检查。这是防止测量结果不准确的唯一方式-因为从长期来看，测针元件磨损和材料脱落是无法避免的。但是，由于蔡司Diamond!Scan测针采用耐用材料，可大大延长该过程。
如果对测针的磨损情况不太确定，则应定期更换测针，以确保始终保持高精度的测量结果。尤其当测针发生碰撞或掉落在地时，更要及时更换。
您可通过显微镜和强光源（1,）自行检查测针，并按需更换。我们建议使用10到40倍的放大倍率检查2-8毫米直径的测头。要测量小于1毫米的测针原件，应使用40-80倍放大倍率，才能很好地检测材料的磨损情况。
合格的测针有磨损的测针
检测并清除探头端部的聚积材料
根据工件材料和测头端部不同，测头端部材料聚积不可避免。因此，必须定期检查和清洁测针，以减少材料聚积，防止测量不准确。对于软工件表面（如：铝），材料聚积问题更严重。在这种情况下，蔡司Diamond!Scan测针是良好的选择，因为该测针采用金刚石测球，更大限度地减少了材料聚积。
与检查测针磨损情况的方法相同，我们建议通过显微镜快速检测材料聚积。
使用蔡司清洁湿巾以更小的压力清洁测针。这种湿巾同样适用于清洁半球盘和校准球。对于顽固性污渍，可将测针放入适当的清洁液中浸泡片刻，然后使用蔡司超细纤维布擦干，有助于清除污渍。
另外，为避免其他污染，在每次开始测量前，必须确保工件表面、导轨和工件夹具清洁。
合格的测针测头材料聚积
前沿生产技术
相比传统制造工艺，新技术（如钎焊和激光加工以及高端材料的使用）可显著提高测针的使用寿命和质量。这节约了宝贵的资源，您可以为客户提供理想的产品。这样就可长期获得可靠的测量结果和高重复性，我们的高精度测量测头随附合格证，作为承诺精度的保证。
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